Microtest 7750-5H Impulsowy tester uzwojeń (napięcie impulsowe 100V~5200V) seria 7750

Microtest 7750-5H Impulsowy tester uzwojeń: napięcie impulsowe 100V~5200V; Najmniejsza indukcyjność ≥1 µH ; Funkcja kompensowania napięcia ; Bardzo szybkie próbkowanie w teście impulsowym ; 100 MHz/9 bit ; Programowanie napięcia impulsowego

0,00  netto 0,00  brutto

Dostępność: Na zamówienie

Ilość

Przegląd produktu

Microtest 7750-5E to impulsowy tester uzwojeń z funkcją kompensowania napięcia oraz napięciem impulsowym 100V~5200V. Charakteryzuje się bardzo szybkim próbkowaniem w teście impulsowym 100MHz/9 bit oraz możliwością porównywania wielu przebiegów.

  • Najniższa indukcyjność (≥1 µH)
  • Napięcie impulsowe 100V~5200V
  • Test napięcia przebicia (Breakdown Voltage): Nie
  • Częstotliwość próbkowania: 100MHz
  • Zapewnia porównanie przebiegów
  • Funkcja kompensacji napięcia
  • Obsługa interfejsów: USB host/device, (RS-232*opcja), we/wy (*GPIB – opcja)

Kluczowe cechy serii 7750

MICROTEST serii 7750 to zaawansowany impulsowy tester uzwojeń. Zapewnia wyjście napięcia impulsowego 1200V/5200V/10000V i wykorzystuje technologię szybkiego próbkowania z częstotliwością 200MHz/9 bitów. Oferuje różne tryby porównawcze, takie jak całkowita powierzchnia, różnica powierzchni, zliczanie wyładowań koronowych(corona count), zliczanie jittera (jitter count), różnicowanie drugiego rzędu (second-order differentiation) i porównywanie przebiegów(waveform comparison). Dzięki szybkości testowania do 10 razy na sekundę, idealnie nadaje się do szybkich linii produkcyjnych.

Do testowania małych komponentów opcjonalnie tester 7750-1S jest dostarczany z czteroprzewodowym urządzeniem do testowania komponentów SMD FX-IM0001. Posiada ono funkcję kompensacji napięcia w celu zminimalizowania błędów napięcia spowodowanych okablowaniem i równoważną indukcyjnością, zapewniając dokładną kontrolę jakości produktów o małej indukcyjności.

  • Najniższa indukcyjność (≥0,1μH)
  • Kalibracja wysokiego napięcia
  • Programowalne napięcie impulsu
  • 200MHz/9bit Wysoka częstotliwość próbkowania testu impulsowego
  • Wbudowana pamięć 128 zestawów przebiegów testowych
  • Zapewnia porównanie przebiegów:
    • Porównanie obszaru całkowitego (Total Area Comparison)
    • Porównanie powierzchni różnicowej (Differential Area Comparison)
    • Tryb porównania FLAT
    • Tryb porównania CORONA
    • Porównanie LAPLACIAN
  • Funkcja kompensacji napięcia
  • Obsługa interfejsów: USB host/device, (RS-232*opcja), we/wy (*GPIB – opcja)

Porównanie modeli

Model 7750-5E 7750-5H 7750-5S 7750-1S 7750-10S
Częstotliwość próbkowania 50MHz 100MHz 200MHz
Napięcie impulsowe 100V-5200V 100V-5200V 100V-5200V 10V-1200V 200V-10000V
Zakres indukcyjności testowej ≥ 1μH ≥ 0.1μH ≥ 20μH
Czas testowania 10x /Sek.
Breakdown Voltage Test
Dokładność napięcia impulsowego ±(1% of setting + 10V) ±(1% of setting + 10V) ±(1% of setting + 10V) ±(1% of setting + 5V) ±(1% of setting + 20V)
Waveform Analysis
Total area comparison
Differential area comparison
LAPLACIAN Comparison
Corona comparison
FLUT Comparison
COMP Comparison

Zastosowania

  • Cewki o małej indukcyjności
  • Elementy indukcyjne o dużej mocy
  • Przekaźniki, transformatory, statory i rotory silników elektrycznych
  • Podzespoły indukcyjne

Akcesoria:

Standardowe:

  • Przewód zasilania

  • Przewód pomiarowy wysokiego napięcia, dwużyłowy

  • Interfejs WE/WY

Opcjonalne:

  • Przewód RS-232

  • Przewód zdalnego sterowania

Prezentacja funkcji

Technika wykrywania zwarć między warstwami

„Porównywanie impulsowego napięcia i przebiegu” jest sposobem wykrywania zwarć między warstwami

Napięcie impulsowe jest nieniszczącym, chwilowym sygnałem, który doprowadzony do obu końców uzwojenia, wykrywa zwarcia bez uszkadzania obiektu pomiarowego.

Porównując sygnał ze wzorcem, możemy ocenić obiekt pomiarowy.

Funkcje testera Microtest 7750:

Bardzo szybkie próbkowanie w teście impulsowym: 200 MHz/9 bit

 

Funkcja kompensowania napięcia i Funkcja sprawdzania napięcia wyjściowego

Tester 7750 wyróżnia się funkcją kompensowania napięcia, której jest zadaniem zmniejszenie możliwości pomyłki przy ocenie.

Możliwość porównywania przebiegów

Porównywanie w trybie OBSZARU

Gdy między warstwami cewki powstanie zwarcie, to wzrosną w niej straty energii, zwiększy się wartość współczynnika tłumienia sygnału rezonansowego, spadnie amplituda tego sygnału i zmniejszy się obszar całkowity. Powyższe parametry są podstawowymi, sprawdzanymi przy diagnozowaniu zwarć między warstwami.

Porównywanie w trybie RÓŻNICOWYM

Różnicę normalnego sygnału i sygnału z obiektu pomiarowego nazywany „obszarem różnicowym”. Gdy wystąpi zwarcie warstw, to zmniejszy się wartość indukcyjności (na przykład uzwojenia transformatora).

Zmieni się faza przebiegu, zmieni się też obszar przebiegu różnicowego, a przyrząd wyświetli komunikat „zły”. Jednak parametr ten może spowodować rozbieżność będącą efektem odchylenia indukcyjności, przesuwając fazę sygnału rezonansowego. (Stąd wyroby ze stali krzemowej takie, jak elementy silników i tradycyjnych transformatorów nie są obsługiwane.)

Porównywanie w trybie KORONA

W teście impulsowym defekt izolacji spowoduje powstanie wyładowania koronowego. Funkcja KORONA oblicza liczbę wystąpień wyładowania koronowego na podstawie stopnia odchylenia przebiegu.

Porównywanie w trybie LAPLASJAN

Porównywanie w trybie COMP

Ustawiając dopuszczalny zakres fali dla fali standardowej, funkcja ta może jednocześnie określać amplitudę i fazę fali rezonansowej. Zwiększa to możliwości wykrywania zwarć międzyzwojowych.

Porównywanie w trybie FLUT

Gdy w cewce uzwojenia występuje wyładowanie międzyzwojowe, kształt fali będzie wykazywał drżenie lub fluktuacje. W związku z tym przyrząd kwantyfikuje stopień drżenia kształtu fali do wartości liczbowych w celu porównania.